企業(yè)簡介
資質(zhì)榮譽(yù)
超聲波掃描顯微鏡SAT
X射線X-ray
I/V自動(dòng)曲線追蹤儀Auto Curve Tracer
酸開封機(jī)Decap
激光開封機(jī)Laser Decap
微光顯微鏡EMMI（P-100）
EMMI和OBIRCH二合一系統(tǒng)TIVA
雙面探針臺(tái)DPW-800
高壓探針臺(tái)HPW
8寸探針臺(tái)PW-800
6寸探針臺(tái)PW-600
經(jīng)濟(jì)型6寸探針臺(tái)MPW-600
4寸探針臺(tái)PW-400
12寸探針臺(tái)PW-1200
掃描電鏡SEM
聚焦離子束FIB
金剛石帶鋸切割機(jī)Allied Diamond Band Saw
高速精密切割機(jī) Allied TechCut 5™
自動(dòng)研磨機(jī)Allied MultiPrep™
真空鑲嵌機(jī) Allied Tech Press 3™
離子刻蝕機(jī)RIE-10NR
離子刻蝕機(jī)RIE-1C
O/S測試機(jī)
ZEISS顯微鏡
IR紅外顯微鏡
針座MP-10
針座MP-06
針座MP-01
同軸探針桿
三軸探針桿針
軟針（GGB）
硬針（GGB）
RF高頻探針頭（GGB）
公司新聞
行業(yè)動(dòng)態(tài)
人才招聘
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聯(lián)系方式
菜單
非破壞性工具
開封工具
漏電定位系統(tǒng)
探針臺(tái)
FIB及掃描電鏡
去層研磨鑲嵌
其他設(shè)備
零配件
實(shí)驗(yàn)室服務(wù)
半導(dǎo)體器件的失效分析流程,國際國內(nèi)公認(rèn)的方法是從非破壞性試驗(yàn)手段到破壞性試驗(yàn)手段
具體可參考下列圖表:
無錫華進(jìn)????? 北京智芯微
北京軟件檢測???? 華測檢測
美信檢測????
021-34638926
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